抗干扰微波探测模块
授权
摘要
本实用新型提供一抗干扰微波探测模块，其中所述抗干扰微波探测模块通过选频的方式减少了环境中不同于所述抗干扰微波探测模块的频段的电磁辐射对所述抗干扰微波探测模块的回波信号的干扰，并进一步通过对多普勒中频信号趋势化处理的方式获取一波动信号，则所述波动信号中的波动的特征参数对应于探测空间内物体动作特征，以使得所述抗干扰微波探测模块能够完整反馈所述探测空间内物体的动作特征，减小了环境中的电磁辐射对所述波动信号的干扰，包括与所述抗干扰微波探测模块同频段的电磁辐射对所述波动信号的干扰。
基本信息
专利标题 ：
抗干扰微波探测模块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921292788.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-05
授权号 ：
CN210954361U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
邹高迪邹新
申请人 ：
深圳迈睿智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道罗田社区象山大道380号3栋2、3楼
代理机构 ：
宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
孟湘明
优先权 ：
CN201921292788.2
主分类号 ：
G01V3/12
IPC分类号 ：
G01V3/12 G01S17/88 G01S7/48 G01S7/487 G01S7/495
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/12
利用电磁波操作
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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