微波探测模块
授权
摘要
本实用新型公开了一微波探测模块，其中所述微波探测模块包括一参考地和一辐射源，所述辐射源被间隔地保持于所述参考地的一侧，并在所述辐射源和所述参考地之间形成一辐射缝隙，所述参考地的一第一侧面与所述辐射源的一第三侧面之间存在一第一预设水平距离，所述参考地的一第二侧面与所述辐射源的一第四侧面之间存在一第二预设水平距离，所述微波探测模块产生的一探测微波能够形成狭长的一探测面，以使得所述微波探测模块适用于探测狭长的目标区域内的用户的活动状况。
基本信息
专利标题 ：
微波探测模块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020057920.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-10
授权号 ：
CN211293290U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
邹高迪邹新
申请人 ：
深圳迈睿智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道罗田社区象山大道380号3栋2、3楼
代理机构 ：
宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李高峰
优先权 ：
CN202020057920.8
主分类号 ：
G01V3/12
IPC分类号 ：
G01V3/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/12
利用电磁波操作
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
