一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统
授权
摘要

本申请公开了一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统,包括基座、第一定位块、第二定位块和测试探头;第一定位块包括第一凸台和第二凸台,第一定位块设置在基座的一侧,第一凸台和第二凸台都位于第一定位块的同一侧;第二定位块设置在基座的一侧,且与第一定位块同侧,与第一定位块相对间隔设置;第二定位块包括第三凸台和第四凸台,第三凸台和第四凸台都位于第二定位块的同一侧,与第一凸台和第二凸台对应间隔设置;测试探头位于第一凸台和第三凸台的间隙之间;其中,第一定位块和第二定位块具有导磁性。测试探头测试第二凸台和第三凸台之间的间隙磁场,只需要变动不同的待测磁石即可,自动化程度高,效率高,测量数据结果一致性好。

基本信息
专利标题 :
一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921313237.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-13
授权号 :
CN211206761U
授权日 :
2020-08-07
发明人 :
焦卫东
申请人 :
骏材(深圳)科技工程有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区沙河西路茶光工业园(百利源电商科技园)第一栋605
代理机构 :
深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
邢涛
优先权 :
CN201921313237.X
主分类号 :
G01R33/02
IPC分类号 :
G01R33/02  G01R33/12  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2020-08-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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