一种磁体磁场测量方法及测量系统

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摘要

本发明提供一种磁体磁场测量方法，对设定环境内待测磁体的磁场进行测量，设定环境为50K以下的真空环境，包括：在设定环境内，待测磁体的中心磁场区域配置信号探头和加热单元，其中信号探头具有LC振荡电路和谐振材料的组合；通过置于设定环境外的控制器，控制加热单元加热信号探头至目标温度后，将谐振材料设置为谐振状态，然后令LC振荡电路中的探测线圈接收预设时间段的射频信号，之后探测线圈采集到自旋回波信号，根据自旋回波信号，确定待测磁体的磁场值。能够对设定环境中磁体产生的磁场进行高精度测量。本发明还提供一种实现本发明磁体磁场测量方法的系统以及采用本发明磁体磁场测量系统对磁体磁场进行测量的方法。

基本信息

专利标题：

一种磁体磁场测量方法及测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113075597A

申请号：

CN202110309634.5

公开（公告）日：

2021-07-06

申请日：

2021-03-23

授权号：

CN113075597B

授权日：

2022-05-06

发明人：

杨刚陈一民

申请人：

东北大学

申请人地址：

辽宁省沈阳市浑南区创新路195号

代理机构：

北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

韩国胜

优先权：

CN202110309634.5

主分类号：

G01R33/10

IPC分类号：

G01R33/10 G01R33/12 G01R33/06