极弱磁场绝对测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明属于磁场测量技术领域,公开了一种极弱磁场绝对测量方法,包括以下步骤:将样品放置在极化区内进行极化,使样品达到热平衡状态;通过引导磁场将极化后的样品转移至待测磁场内的测量区;样品自旋在强相互作用以及待测磁场中演化,编码待测磁场参数;用原子磁力计连续测量样品在待测磁场下核自旋磁化强度的时间演化;使用数据采集卡对原子磁力计测量信号进行采集,然后对测量信号进行傅里叶变换并输出,形成演化谱线;对谱线进行分析,得出待测磁场的大小和方向。通过已知样品在待定磁场内的核磁化强度的时间演化来分析测量待测磁场的大小和强度,取消了现有技术中磁场校准环节,有效避免校准误差和技术噪声,提高极弱磁场的测量准确度。

基本信息
专利标题 :
极弱磁场绝对测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264985A
申请号 :
CN202111517587.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
江敏徐旻翔彭新华
申请人 :
中国科学技术大学
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 :
北京众允专利代理有限公司
代理人 :
张斌斌
优先权 :
CN202111517587.X
主分类号 :
G01R33/02
IPC分类号 :
G01R33/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/02
申请日 : 20211213
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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