一种外壳试验框架
授权
摘要
本实用新型提供了一种外壳试验框架，属于设备检测的技术领域。一种外壳试验框架包括框架主体、检测组件以及压紧组件；本实用新型通过于框架主体上设置有台阶孔来实现对待试验的外壳的支撑，并于台阶孔旁侧设置有检测组件，且检测组件的发射接收器的曝光范围覆盖台阶孔，使得能通过发射接收器接收返回的光的量来判断外壳的轮廓线与台阶孔的轮廓线之间的间隙大小，从而判断出外壳是否满足使用标准，实现了外壳试验的高精度检测，另外，于检测组件和台阶孔之间设置有压紧组件，通过压紧组件实现了对台阶孔内的外壳的压紧，从而防止了曝光过程中外壳的移动，进一步提高了试验的准确性，更好的满足了试验需求。
基本信息
专利标题 ：
一种外壳试验框架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921316919.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-14
授权号 ：
CN210400294U
授权日 ：
2020-04-24
发明人 ：
赖会琼
申请人 ：
宁波东顺电子科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市象山县城东工业园知新路21号
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
沈栋栋
优先权 ：
CN201921316919.6
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/14 G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-04-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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