一种用于测量深孔位置的测头
授权
摘要
本实用新型提供一种用于测量深孔位置的测头，该测头结构包括测杆和测针，测杆的一端端面设置方槽；测针的一端设置连接头，连接头固定设置于方槽内，测针的另一端设置有测球。本实用新型提供一种用于测量深孔位置的测头，可以用于测高仪上进行深孔位置测量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测量深孔位置的测头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921338281.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-16
授权号 ：
CN210718891U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
王旭谭延军
申请人 ：
中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市雁塔区锦业路129号
代理机构 ：
中国航空专利中心
代理人 ：
王世磊
优先权 ：
CN201921338281.6
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00 G01B5/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
