一种全反射光路探测物质含量的装置
授权
摘要

本实用新型涉及全反射光路探测技术领域,具体为一种全反射光路探测物质含量的装置,包括控制箱,所述控制箱的前表面转动连接有显示屏,所述控制箱的下表面焊接连接有把手,所述把手的外表面包裹连接有防滑片,所述把手的一侧安装有检测开关,所述控制箱的上表面前端安装有控制按键,所述控制箱的上表面后端开设有散热网,所述控制箱的内部下端安装有充电头,所述控制箱的内部上端安装有电池。本实用新型全反射光路探测物质含量的装置,为手持的结构设计,装置的检测仪的射灯按键把手的一侧,把手设置有防滑装置,充电孔上设置有防潮盖,装置的显示屏能任意调整角度,控制按键在装置的上表面。

基本信息
专利标题 :
一种全反射光路探测物质含量的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921338535.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-19
授权号 :
CN211652622U
授权日 :
2020-10-09
发明人 :
秦少平王雅娜王文华温新竹
申请人 :
天津福道一科技有限公司
申请人地址 :
天津市东丽区东丽湖街道华纳景湖花园(景湖科技园1号楼)1-302-19室
代理机构 :
苏州和氏璧知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李晓星
优先权 :
CN201921338535.4
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-10-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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