测值针及测量机构

授权

摘要

本实用新型的实施例提供了一种测值针及测量机构，涉及表面贴装技术领域。一种测值针，用于料带上电子元件的测值，料带上还设有用于封装电子元件的封装膜，测值针包括安装件和呈扁平状的测量件。安装件的一端用于安装于下针机构。测量件包括连接部和测量部，连接部连接于安装件，测量部连接于连接部远离安装件的一侧并用于电子元件的测值，测量部呈楔形，并用于穿透封装膜。连接部的厚度为0.5mm‑1mm。本实用新型还提供了一种测量机构，其采用了上述的测值针。本实用新型提供的测值针及测量机构能便于测量，并能提高测量精度和测量稳定性。

基本信息

专利标题：

测值针及测量机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921355762.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-20

授权号：

CN210572563U

授权日：

2020-05-19

发明人：

刘博潘磊雷利军

申请人：

深圳市蓝眼科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路鸿辉工业园2号厂房601A

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

李梦宁

优先权：

CN201921355762.8

主分类号：

G01R31/01

IPC分类号：

G01R31/01 G01R1/067