测值针
授权
摘要
本实用新型公开了测值针，包括切膜刀口、接触斜面、切编带物料刀口、测值线安装孔，所述切膜刀口前端设置有所述接触斜面，所述切膜刀口后端设置有所述切编带物料刀口，所述切膜刀口上端连接测值固定位，所述测值固定位上设置有所述测值线安装孔，所述切膜刀口和覆膜之间设置有测值口。本实用新型测值内部斜面更好的接触很小的覆膜电子元件，切编带物料刀口容易刺破及耐磨，同时拥有测值固定位能够减少接触面。
基本信息
专利标题 ：
测值针
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022453743.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
CN213813709U
授权日 ：
2021-07-27
发明人 ：
柯晓庆黎育明
申请人 ：
东莞市冠菱精密设备有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市厚街镇绿洲路60号
代理机构 ：
北京君泊知识产权代理有限公司
代理人 ：
王程远
优先权 ：
CN202022453743.8
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-07-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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