探针测量装置及系统
专利申请权、专利权的转移
摘要
一种探针测量装置及系统，此探针测量装置采用较大的电路板配置测试元件，同时改变电路板上各个测试元件的布局，因此能够增加电路板上所能配置的测试元件的数目，从而增加探针测量装置的探针数目。此外，更可将此探针测量装置安装到旧有的测试机器上，藉以提高旧有测试机器的探针测量效能，达到节省芯片测试成本的目的。
基本信息
专利标题 ：
探针测量装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101004428A
申请号 ：
CN200610005897.2
公开（公告）日 ：
2007-07-25
申请日 ：
2006-01-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许繁贤
申请人 ：
力晶半导体股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
陶凤波
优先权 ：
CN200610005897.2
主分类号 ：
G01R1/073
IPC分类号 ：
G01R1/073 G01R1/067 G01R31/26 H01L21/66
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2019-07-16 ：
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01R 1/073
登记生效日 : 20190626
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 力晶科技股份有限公司
变更后权利人 : 力晶积成电子制造股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 中国台湾新竹科学工业园区
变更后权利人 : 中国台湾新竹科学工业园区
登记生效日 : 20190626
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 力晶科技股份有限公司
变更后权利人 : 力晶积成电子制造股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 中国台湾新竹科学工业园区
变更后权利人 : 中国台湾新竹科学工业园区
2010-12-01 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101048799944
IPC(主分类) : G01R 1/073
专利号 : ZL2006100058972
变更事项 : 专利权人
变更前 : 力晶半导体股份有限公司
变更后 : 力晶科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 中国台湾新竹市
变更后 : 中国台湾新竹科学工业园区
号牌文件序号 : 101048799944
IPC(主分类) : G01R 1/073
专利号 : ZL2006100058972
变更事项 : 专利权人
变更前 : 力晶半导体股份有限公司
变更后 : 力晶科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 中国台湾新竹市
变更后 : 中国台湾新竹科学工业园区
2009-12-23 ：
授权
2007-09-19 ：
实质审查的生效
2007-07-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100573161C.PDF
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2、
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