一种探针测量装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型公开一种探针测量装置,包括:基架;以及设于所述基架上的:电极夹具组件,其连接于电源,所述电极夹具组件包括固定夹具和活动夹具,所述活动夹具可相对于所述固定夹具运动以抵接于置于所述固定夹具上的待测量件;探针测量组件,其连接于测量仪表,所述探针测量装置包括第一探针和第二探针,所述第一探针和所述第二探针均直接抵接于所述待测量件以测得测量参数,其中所述第一探针固定连接于所述活动夹具。此结构的一种探针测量装置,通过设置第一探针和第二探针直接抵接于待测量件,以减少测量误差;通过设置第一探针固定连接于活动夹具,两者可通过同一驱动件驱动,使得装置的集成化较高。

基本信息
专利标题 :
一种探针测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921861530.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-31
授权号 :
CN211179939U
授权日 :
2020-08-04
发明人 :
潘华东靳嫣然周立闵大勇廖新胜
申请人 :
苏州长光华芯光电技术有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区昆仑山路189号2栋
代理机构 :
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 :
贾晓燕
优先权 :
CN201921861530.X
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/04  G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2021-03-23 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 1/073
变更事项 : 专利权人
变更前 : 苏州长光华芯光电技术有限公司
变更后 : 苏州长光华芯光电技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 215163 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号2栋
变更后 : 215163 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号科技城工业坊-A区2号厂房-1-102、2号厂房-2-203
变更事项 : 专利权人
变更前 : 苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
变更后 : 苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
2020-08-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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