测量探针
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摘要
用于定位装置的探针具有探针体(18)和接触工件的触针(14)。应变灵敏结构体连接探针体和触针，且包括可弯曲构件(32)。可弯曲构件具有不对称的横截面，例如“T”形横截面。在“T”的柄部设置应变仪(33)，用于检测当触针接触工件时引起的弯曲。这能够使应变灵敏结构体结实且对弯曲灵敏。
基本信息
专利标题 ：
测量探针
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101142461A
申请号 ：
CN200680008386.4
公开（公告）日 ：
2008-03-12
申请日 ：
2006-03-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
彼得·肯尼思·赫利尔戴维·罗伯茨·麦克默特里
申请人 ：
瑞尼斯豪公司
申请人地址 ：
英国格洛斯特郡
代理机构 ：
北京明和龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
郁玉成
优先权 ：
CN200680008386.4
主分类号 ：
G01B7/012
IPC分类号 ：
G01B7/012
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/004
用于测量各点的坐标
G01B7/008
使用坐标测量机
G01B7/012
其接触式测隙头
法律状态
2010-07-28 ：
授权
2008-05-07 ：
实质审查的生效
2008-03-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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