测量探针
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种连续测量工件的多轴测量探针，它的针头由相反方向作用的几个弹性力悬置从而确定一个平衡的静止位置。这种结构改进了探针的动态响应和精度的协调。在该探针的校准期间，沿着弯曲路线在探针给定的多个位置收集一系列探测数据，并收集一系列与探针无关的给定位置的位置数据，然后在探测数据和位置数据之间进行换算，以获得用于较正测量信号的校准参数。这些校准参数与一个测量表达式被贮存起来以备与探测输出信号一起应用，以获得校正的测量信号。
基本信息
专利标题 ：
测量探针
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1051786A
申请号 ：
CN90109008.5
公开（公告）日 ：
1991-05-29
申请日 ：
1990-11-03
授权号 ：
CN1025887C
授权日 ：
1994-09-07
发明人 ：
伊恩·肯尼思·巴克斯特
申请人 ：
兰克·泰勒·霍布森有限公司
申请人地址 ：
英国英格兰
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
孙洁敏
优先权 ：
CN90109008.5
主分类号 ：
G01B7/00
IPC分类号 ：
G01B7/00 G01B7/03 G01B5/20
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
法律状态
2005-02-23 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-04-24 ：
其他有关事项
1994-09-07 ：
授权
1992-09-16 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1991-05-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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