超高真空极低温四探针测量装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种超高真空极低温四探针测量装置，包括底座，所述底座设有螺纹腔和支撑部，螺杆部分内置于所述螺纹腔，所述螺杆的顶部为半球；探针台位于所述底座的上端并且所述底座通过支撑部支撑所述探针台，所述螺杆通过半球与所述探针台接触并且所述螺杆通过旋转使半球顶着探针台旋转，所述探针台的上端安装有四个探针，所述探针用于接触电极并且检测电极的完好性，样品托装置的上端与所述上板架固定连接。本实用新型公开的一种超高真空极低温四探针测量装置，其与显微镜配合使用，加通直流电检测样品的完好性。

基本信息

专利标题：

超高真空极低温四探针测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921487258.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-06

授权号：

CN210775555U

授权日：

2020-06-16

发明人：

王文杰

申请人：

仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司

申请人地址：

浙江省嘉兴市南湖区亚太路906号（中科院三期）17号楼2楼203室

代理机构：

嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

张抗震

优先权：

CN201921487258.3

主分类号：

G01Q60/00

IPC分类号：

G01Q60/00 G01Q30/02 G01Q30/10 G01Q30/16 G01Q70/08