一种放射源活度快速测量装置
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摘要

本实用新型涉及放射源测量装置领域,公开了一种放射源活度快速测量装置,放置于热室内部使用,包括屏蔽罩。屏蔽罩内部设置有测量室和放置放射源的置源室。测量室和置源室通过准直孔连通。置源室内设置有可抽出的用于放置放射源的置源架。测量室内设置有电离室。使用时,屏蔽罩能够避免屏蔽罩外的辐射进入屏蔽罩内,使得测量在低本底剂量水平条件下进行,保证了测量结果的准确性。同时,狼嚎的屏蔽性能使得操作人员一次可将多个放射源放置于热室内备测。有效的避免了操作人员反复进入热室换源,提升了测量的效率。

基本信息
专利标题 :
一种放射源活度快速测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921371862.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-22
授权号 :
CN210923971U
授权日 :
2020-07-03
发明人 :
赵建华刘军杨天伟辛虹阳龙礼国张强
申请人 :
成都中核高通同位素股份有限公司
申请人地址 :
四川省成都市二环路南三段25号2栋3层6号
代理机构 :
成都睿道专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蒋丽
优先权 :
CN201921371862.X
主分类号 :
G01T1/185
IPC分类号 :
G01T1/185  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/185
用电离室装置
法律状态
2020-07-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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