一种放射源活度测量用井型电离室
公开
摘要
本公开请求保护一种放射源活度测量用井型电离室，该电离室包括电离室壳体和定位结构，定位结构包括定位块和连接线，其中连接线的一端与定位块连接，另一端与电离室内壁连接；定位块还包括电磁发生器，电磁发生器能够产生不同磁极；电离室壳体包括上盖和本体，本体包括竖直壁和底壳；电离室还包括定位柱，定位柱包括永磁块；所述定位结构具有两个状态，夹紧状态和放松状态，在夹紧状态，电磁发生器产生与永磁块相反的磁极；在放松状态，电磁发生器产生与永磁块相同的磁极。本电离室能够精确的定位支架。
基本信息
专利标题 ：
一种放射源活度测量用井型电离室
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563811A
申请号 ：
CN202210215427.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
宇航沈阳屈端史萌
申请人 ：
宇航;沈阳;屈端;史萌
申请人地址 ：
北京市朝阳区水碓子东路2号楼1单元303
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210215427.8
主分类号 ：
G01T1/185
IPC分类号 ：
G01T1/185
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/185
用电离室装置
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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