相控阵检测校准用试块

授权

摘要

本实用新型涉及相控阵检测。相控阵检测校准用试块，包括呈方形状的块状体，以块状体位于右侧的端面为右侧面、以块状体位于前方的端面为前侧面、以块状体位于后方的端面为后侧面、以块状体位于左侧的端面为左侧面，块状体的右侧设有凹陷，块状体的左侧连接有一个呈三角状的第一凸起块，块状体的左侧还连接有一个呈梯形状的第二凸起块，第二凸起块的横截面积大于第一凸起块的横截面积，第一凸起块位于下方的端面连接第二凸起位于上方的端面；块状体上开有上下贯穿的第一通孔、第二通孔。本实用新型用于校准相控阵检测仪器。

基本信息

专利标题：

相控阵检测校准用试块

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921373330.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-22

授权号：

CN210775348U

授权日：

2020-06-16

发明人：

郭剑豪王欢顾伟群

申请人：

上海贤达美尔森过程设备有限公司

申请人地址：

上海市奉贤区奉城镇神州路289号

代理机构：

上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

陈伟勇

优先权：

CN201921373330.X

主分类号：

G01N29/30

IPC分类号：

G01N29/30