超微电容外观检测设备导正机构

授权

摘要

本实用新型公开了超微电容外观检测设备导正机构，包括固定底座，所述固定底座的上表面开设有四组固定螺栓孔，所述固定底座的上表面通过螺栓固定连接有第一调节板，且第一调节板的上表面也通过螺栓固定连接有第二调节板，所述连接板的前端螺纹连接有调节杆，所述连接板的上端固定连接有连接座，所述连接座的上端通过螺栓固定连接有支撑板，所述支撑板的右侧固定连接有连接块，所述支撑板的上端设置有导正机构。本实用新型所述的超微电容外观检测设备导正机构，通过导正机构，从而对所需要的微小产品电容进行检测导正，导正率达到99%，很大程度的提高了对产品的外观检测效率，降低了人工操作的工作强度。

基本信息

专利标题：

超微电容外观检测设备导正机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921378766.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-22

授权号：

CN210982244U

授权日：

2020-07-10

发明人：

喻超凡叶光进谢国荣朱礼平龚博

申请人：

珠海市奥德维科技有限公司

申请人地址：

广东省珠海市前山沥溪工业园福田路10号博杰电子1栋1楼珠海市奥德维科技有限公司

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921378766.8

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88 G01N21/01 B65G47/24