一体式被动微波探测电子设备
授权
摘要
本实用新型涉及一体式被动微波探测电子设备包括舱体、前罩及刚性一体式装置，所述刚性一体式装置固定于舱体的内部，在所述舱体的外围还覆盖前罩，所述前罩与舱体通过紧固件固接；本实用新型结构简单，使用方便，接收壳体在刚性一体式装置中作为主承力结构的一部分，其能提高设备的空间利用率，通过在接收壳体上开设开口槽，其能缩短连接螺钉的长度，提高刚性一体式装置的稳定性。本实用新型空间利用率高，各功能模块互连且结构简单，加工制造成本低，不仅可以满足力学环境要求，还具有良好的传递性，接收模块、电源模块及信号处理模块均采用金属壳体结构，电磁兼容性好，可靠性高。
基本信息
专利标题 ：
一体式被动微波探测电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921396056.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-26
授权号 ：
CN210690710U
授权日 ：
2020-06-05
发明人 ：
耿玉春王昊王宇黄长泡
申请人 ：
无锡国芯微电子系统有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市建筑西路777号蠡园开发区无锡国家集成电路设计中心A7幢
代理机构 ：
无锡华源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
聂启新
优先权 ：
CN201921396056.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-06-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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