一种极片电阻测量仪

授权

摘要

本实用新型提供了一种极片电阻测量仪，支撑框架以及设置在所述支撑框架内的测量装置；第一活动板设置有第一直线轴承及第二直线轴承；第一导向柱以及第二导向柱的两端分别连接支撑框架的上表面以及下表面，第一活动板通过第一直线轴承及第二直线轴承活动连接于第一导向柱以及第二导向柱上，第一端子及第二端子分别固定于第一活动板及支撑框架上下表面；施压装置设置于支撑框架的上表面，并通过第一活动板施压；还包括第一测厚传感器及第二测厚传感器；第一测厚传感器以及第二测厚传感器分别固定于第一活动板的下表面的相对的两端。基于本实用新型通过双测厚传感器对极片电阻进行测量后取平均值，可精确的测量极片电阻的厚度。

基本信息

专利标题：

一种极片电阻测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921438733.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-30

授权号：

CN211293072U

授权日：

2020-08-18

发明人：

王益张兴华魏奕民颜旭涛李景峰

申请人：

元能科技（厦门）有限公司

申请人地址：

福建省厦门市湖里区湖里大道2号哈曼尼广场426-430单元

代理机构：

厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

陈槐萱

优先权：

CN201921438733.8

主分类号：

G01R27/02

IPC分类号：

G01R27/02 G01B21/08 G05D15/01