一种极片电阻承载台及测量仪
授权
摘要
本实用新型提供了一种极片电阻承载台及测量仪，包括：用于放置极片电阻的样品台底座以及与所述样品台底座匹配的端盖；所述样品台底座包括测量部及手持部，所述手持部设置于所述测量部的后端；其中，所述测量部的前端设置有第一开口，在所述测量部上设置有至少一组第一测量开口，所述第一测量开口与所述前端开口连通，所述第一测量开口与所述第一开口贯穿所述样品台底座；所述端盖上设置有第二开口与第二测量开口，贯穿所述端盖，且与所述样品台底座上的开口相对应，基于本实用新型，极片电阻承载台上设置有多个与上下压头相匹配的测量开口，可在装载后对极片电阻进行不同位置的测量，且避免重复施压，对极片电阻测试造成影响。
基本信息
专利标题 ：
一种极片电阻承载台及测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921438803.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-30
授权号 ：
CN211293073U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
王益张兴华魏奕民颜旭涛邓然畅
申请人 ：
元能科技（厦门）有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市湖里区湖里大道2号哈曼尼广场426-430单元
代理机构 ：
厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈槐萱
优先权 ：
CN201921438803.X
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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