一种用于糕点的杂质检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及糕点检测技术领域,具体涉及一种用于糕点的杂质检测装置,包括机架,还包括输送装置、挡板和检测仓,输送装置和检测仓依次安装于机架,输送装置贯穿检测仓,挡板设于输送装置两侧,挡板与机架可调节式连接,检测仓设有检测部、控制单元和显示单元,检测部安装于检测仓内侧顶部,控制单元和显示单元分别安装于检测仓,控制单元分别与检测部和显示单元连接,本实用新型通过采用输送装置贯穿检测仓送料,检测仓对输送装置输送至检测仓的糕点进行杂质检测,检测部将检测结果反馈至控制装置,控制装置将结果传输至显示装置进行显示,提醒作业人员糕点是否有杂质,其结构简单,测试方便,可整箱传送检测。

基本信息
专利标题 :
一种用于糕点的杂质检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921460586.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-03
授权号 :
CN210690451U
授权日 :
2020-06-05
发明人 :
钟承达
申请人 :
东莞万好食品有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市横沥镇西城科技园
代理机构 :
东莞恒成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邓燕
优先权 :
CN201921460586.4
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2020-06-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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