一种糕点杂质检验装置
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摘要

本实用新型公开了一种糕点杂质检验装置,其技术方案要点是:包括工作台,所述工作台的上部一侧焊接有切割箱,所述切割箱的顶部安装有电缸,所述电缸的输出端连接有切割刀,所述切割箱的底部连接有载物台,所述切割箱的两侧开设有滑槽,所述载物台的两侧设有滑块,所述工作台的上部另一侧安装有立柱,所述立柱的内部连接有螺柱,所述螺柱上螺纹连接有滑动座,所述滑动座的正面设有第一连接杆,所述第一连接杆连接有第二连接杆,所述第二连接杆的端部连接有放大镜,所述工作台的上部设有支撑座,所述支撑座上安装有钢化玻璃板,所述工作台的上部安装有照明灯;利用装置可以对糕点进行快速切片和进行杂质观察。

基本信息
专利标题 :
一种糕点杂质检验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022210504.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
CN213580631U
授权日 :
2021-06-29
发明人 :
汤安柱
申请人 :
泉州添顺食品有限公司
申请人地址 :
福建省泉州市永春县轻工基地南区霞林275号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022210504.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/95  G01N1/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-06-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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