光学超分辨显微成像系统
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摘要

本实用新型提供了一种光学超分辨显微成像系统,包括:二色分光镜,其用以透过环形平行光;聚焦透镜,其对透过二色分光镜的环形平行光进行汇聚;共聚焦针孔,环形平行光汇聚后穿过共聚焦针孔,以对环形平行光进行过滤;变焦透镜组,其用以将穿过共聚焦针孔的环形平行光准直为激发环形平行光,激发环形平行光依次经过扫描透镜和显微镜,在位于显微镜物镜焦平面的样品上形成直径小于物镜衍射极限的单一的荧光激发光斑;探测器,其用以接收被激发的样品发射的荧光并进行处理,被激发的样品发射的荧光原路返回,二色分光镜将样品发射的荧光从环形平行光路中分离,转向探测器,获得样品的超分辨图像。本系统能够显著提高图像的分辨率,获取超分辨图像。

基本信息
专利标题 :
光学超分辨显微成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921470215.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-05
授权号 :
CN211785127U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
赖博王继光
申请人 :
北京世纪桑尼科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区大柳树富海中心2号楼4层408
代理机构 :
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
史霞
优先权 :
CN201921470215.4
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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