一种岩石样品微区圈定装置
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摘要

本实用新型公开了一种岩石样品微区圈定装置,包括偏光显微镜、荧光显微镜、阴极发光显微镜、手电筒、油性笔、图像处理器以及显微镜载玻片;在所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜的支架上设置有能够在所述偏光显微镜、所述荧光显微镜和所述阴极发光显微镜之间来回移动的第一移动机构,在所述第一移动机构上设置有第二移动机构,所述第二移动机构的移动方向与所述第一移动机构的移动方向在水平面上相互垂直;所述第二移动机构的顶部设置有载物台。通过将载物台设置于第二移动机构上,可以在使用过程中直接移动载物台,从而不用将载玻片反复取下和再放置到下一个显微镜下,保证了在不同显微镜下样品摆放方向一致,方便后续操作。

基本信息
专利标题 :
一种岩石样品微区圈定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921487910.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-06
授权号 :
CN210626338U
授权日 :
2020-05-26
发明人 :
林雪梅朱联强徐云强肖钦仁王姝力
申请人 :
成都理工大学
申请人地址 :
四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
代理机构 :
成都顶峰专利事务所(普通合伙)
代理人 :
李崧岩
优先权 :
CN201921487910.1
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/84  B25H7/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-05-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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