连续温区散射测量样品台
实质审查的生效
摘要

本发明公开了连续温区散射测量样品台,包括栅格散射样品架和设置在栅格散射样品架一侧表面内的加热丝一和加热丝二,通过所述加热丝一和加热丝二为栅格散射样品架加热,并在其上形成连续温度区域,还包括温度检测组件,用于检测温度和避免栅格散射样品架过热,所述温度检测组件和加热丝一和加热丝二分别与外部的测量控制终端连接。本发明可产生连续可调的温度场,且测试过程中无需等待热平衡,多个温度点对样品进行测试,可实现对温度敏感样品的快速测试。

基本信息
专利标题 :
连续温区散射测量样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114460113A
申请号 :
CN202210211138.0
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-03-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
武美玲
申请人 :
安徽国科仪器科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区望江西路5089号嵌入式研发楼205室
代理机构 :
合肥昕华汇联专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
崔雅丽
优先权 :
CN202210211138.0
主分类号 :
G01N23/20033
IPC分类号 :
G01N23/20033  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20033
申请日 : 20220303
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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