基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置。本实用新型包括置于待测光学系统出口位置的平面镜、置于待测光学系统焦面上的焦面探测CCD，以及干涉仪；所述干涉仪的焦点位于所述待测光学系统的焦面上，所述焦面探测CCD安装在垂直设置的电动导轨上，所述平面镜设置在细分多齿分度台上。本实用新型通用性强，测量不同系统无需更换任何元件或额外增加元件。
基本信息
专利标题 ：
基于自准平面镜的长焦距光学系统焦距测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921510784.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-11
授权号 ：
CN210426956U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
李明朱德燕孙磊强
申请人 ：
南京英田光学工程股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区科创路1号金港科创园7栋2楼
代理机构 ：
南京众联专利代理有限公司
代理人 ：
许小莉
优先权 ：
CN201921510784.7
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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