一种在光谱分析中用于固定滤光片的多工位夹具
授权
摘要
本实用新型公开一种在光谱分析中用于固定滤光片的多工位夹具，属于光谱分析用夹具技术领域。在本实用新型提供的一种在光谱分析中用于固定滤光片的多工位夹具中，包括底座和滤光盘，所述滤光盘转动设置在所述底座上，所述滤光盘上沿周向开设有若干个透光孔，滤光片固定覆盖在所述透光孔上；所述多工位夹具还包括识别检测装置，用于识别检测所述工位对应的所述滤光片。本实用新型提供的一种在光谱分析中用于固定滤光片的多工位夹具，能够固定多种不同的所述滤光片，从而对多种不同的元素进行检测。所述识别检测装置能够针对需要检测的不同元素自动选择对应的所述滤光片，操作简单，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种在光谱分析中用于固定滤光片的多工位夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921521304.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-12
授权号 ：
CN210720211U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
张航飞石如莹马建州
申请人 ：
无锡创想分析仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市梁溪区新惠路12号9号楼
代理机构 ：
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨立秋
优先权 ：
CN201921521304.7
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01N23/2204 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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