微差压校验装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种微差压校验装置，包括用于连接压力泵的压力室、用于将所述压力室分隔为正压腔和负压腔的分压阀、用于接入待测微差压仪表一端的正压管以及用于接入待测微差压仪表另一端的负压管；所述正压腔与所述压力泵连通，所述正压管与所述正压腔连通，所述负压管与所述负压腔连通；所述压力室上设有用于显示正压腔压力的第一压力表和用于显示负压腔压力的第二压力表。本实用新型提供的微差压校验装置可以有效降低获取微差压的调节难度；且可以使得待测微差压仪表的两端同时受压后再进行微差压的调节，有效避免了压力泵直接冲击待测微差压仪表，降低了损坏待测微差压仪表的风险，有效解决了微差压仪表现场校验困难的问题。
基本信息
专利标题 ：
微差压校验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921555313.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-18
授权号 ：
CN210833999U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
高鑫
申请人 ：
中核检修有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区蟠龙路500号-1
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
郑浩旋
优先权 ：
CN201921555313.8
主分类号 ：
G01L27/00
IPC分类号 ：
G01L27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L27/00
用于测量流体压力的仪表的检测或校准
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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