补胶填平机构及点胶装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种补胶填平机构及点胶装置,该补胶填平机构包括平面检测组件、补胶填平组件以及XYZ移动组件。本实用新型提供的补胶填平机构,通过设置平面检测组件和补胶填平组件,该补胶填平组件可以在Z轴方向上向芯片补胶,XYZ移动组件能够驱动补胶填平组件移动至XYZ坐标轴任一位置,实现了不仅能够用平面检测机构对芯片胶水厚度的检测,同时也实现了用补胶填平组件对芯片胶水厚度的控制,提高了芯片的生产效率。

基本信息
专利标题 :
补胶填平机构及点胶装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921558599.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-18
授权号 :
CN211262126U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
黄奕宏钟履泉罗炳杰
申请人 :
深圳市深科达微电子设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福海街道新田社区征程二路2号C栋2层南
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
李海宝
优先权 :
CN201921558599.5
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G01B11/30  B05C5/02  B05C11/00  B05C11/10  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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