荧光检测器
授权
摘要
本实用新型涉及一种荧光检测器,包括:样品流通池,在样品流通池的内部能容纳有待检测的样品;检测装置,其用于检测所述样品响应于光而激发出的荧光;布置在样品流通池上游的第一光学系统,第一光学系统包括作为光源的多个发光二极管,由多个发光二极管发出的光经由所述样品流通池的矩形入射窗口照射到样品流通池内的所述样品,以使所述样品能够发出用于检测的荧光,由多个发光二极管发出的光在所述矩形入射窗口上形成的多个光斑沿所述矩形入射窗口的长边方向为彼此并排定位。借助上述荧光检测器,能够获得尽可能充分利用矩形入射窗口面积来降低光强损失、同时适当提高照射样品的光强从而提高样品的荧光量以有利于荧光检测的光学结构。
基本信息
专利标题 :
荧光检测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921568990.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-20
授权号 :
CN211122535U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
胡斌丁庆勇邵钢李文恩
申请人 :
赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区秦桥路211号T71-6幢第一、二层东侧
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
江漪
优先权 :
CN201921568990.3
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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