一种荧光检测器
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种荧光检测器,包括激发光源、激发滤光片、第一二向色镜、第一汇聚透镜、检测池、曲面反光镜、第二二向色镜、光阱、发射滤光片和光电探测器;该荧光检测器采用共线式光路结构,由一块曲面反光镜收集并反射荧光与未利用的激发光,并通过荧光发射光路上的第二二向色镜以及其后的光阱消除荧光中掺杂的激发光和杂散光,从而在确保了激发光的二次利用以及荧光的高效收集的前提下,避免了被曲面反光镜反射进荧光发射光路的激发光和杂散光对检测信噪比造成的不利影响,可使检测信噪比提高4倍以上。

基本信息
专利标题 :
一种荧光检测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544563A
申请号 :
CN202011356444.0
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2020-11-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
耿旭辉王传亮关亚风
申请人 :
中国科学院大连化学物理研究所
申请人地址 :
辽宁省大连市沙河口区中山路457号
代理机构 :
大连东方专利代理有限责任公司
代理人 :
徐华燊
优先权 :
CN202011356444.0
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20201126
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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