一种测量材料非线性的光学系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种测量材料非线性的光学系统，包括上测量框，所述上测量框下方一体化设置有下测量框，所述上测量框左端面设置有进光口，所述进光口内设置有入射线束，所述上测量框左端面进光口处设置有扩束透镜，所述上测量框内从左到右依次设置有准直透镜、PO挡板、分束器、第一凸镜、样品组件、第二凸镜、第一反射镜和环形衰减片，结构简单，构造清晰易懂，系统测量灵敏度高，测量结构包括测量样品安装方便，方便更换和测量，整个装置密封性好，配合吸光材料能够很好的避免外界光线对测量造成影响，提高测量精确度，值得推广。
基本信息
专利标题 ：
一种测量材料非线性的光学系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921577717.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-20
授权号 ：
CN210604358U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
王伟
申请人 ：
苏州大学
申请人地址 ：
江苏省苏州市相城区济学路8号
代理机构 ：
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吕明霞
优先权 ：
CN201921577717.7
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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