一种阵列天线单元集成测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种阵列天线单元集成测试装置，包括测试分机、电缆组件和通道适配器；所述测试分机的输出端通过电缆组件与所述通道适配器的输入端连接；所述通道适配器由外壳、一个微波总开关、多个微波分开关与通道连接器组成；所述微波总开关和微波分开关均为机械式微波开关；本实用新型通过一个微波总开关、多个微波分开关以及通道连接器组装成通道适配器，并采用机械式微波开关进行通道选择，机械式微波开关的频道覆盖宽，微波特异性好、适应性强，可减少测试时间及避免误判的可能，提高阵列天线海量数据的测试效率，满足了阵列天线调试过程中的检测需求。
基本信息
专利标题 ：
一种阵列天线单元集成测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921586157.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-23
授权号 ：
CN210720585U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
张伟郑善伦刘伟
申请人 ：
中国电子科技集团公司第三十八研究所
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号
代理机构 ：
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
叶濛濛
优先权 ：
CN201921586157.1
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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