一种测量台阶孔精度的塞规

授权

摘要

本实用新型提供的一种测量台阶孔精度的塞规，包括匹配于台阶孔的台阶式塞规本体，所述塞规本体的每个台阶面的外壁上均设有测头组，所述测头组自所述塞规本体的内部延伸至其外部，所述测头组的延伸方向垂直于塞规本体的轴向，且所述测头组能够在其延伸方向上伸缩移动，所述测头组均对应连接有量测杆，所述量测杆抵接在所述测头组上并随着所述测头组的移动而移动，所述量测杆的一端与所述测头组连接，另一端连接有用于显示测头组移动距离的测量数值读取装置。本实用新型能够同时检测台阶孔的上台阶面精度，操作便捷，测量效率高，检测精度高。

基本信息

专利标题：

一种测量台阶孔精度的塞规

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921591785.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-24

授权号：

CN210603027U

授权日：

2020-05-22

发明人：

沃林尉志超

申请人：

苏州英示测量科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市高新区向阳路80号

代理机构：

苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

周子轶

优先权：

CN201921591785.9

主分类号：

G01B3/26

IPC分类号：

G01B3/26