电子部件的测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及电子部件的测试设备，其中测试设备包括：一测试系统，测试系统被配置为测试电子部件；以及一测试夹具，测试夹具被配置为将电子部件固定在测试系统上，其中，测试系统包括：一锁紧机构，用于将测试系统与测试夹具连接，其中，锁紧机构包括：一操作件，用于以旋转的方式操作；一锁紧件，用于连接和锁紧测试夹具；以及一驱动结构，连接在操作件与锁紧件之间，用于将操作件的扭矩转换成在水平方向驱动锁紧件的驱动力，使得锁紧件沿水平方向运动从而在位于第一侧的用于释放测试夹具的释放位置与位于第二侧的用于锁紧测试夹具的锁紧位置之间切换。根据本实用新型的电子部件的测试设备提供了测试系统与测试夹具之间的快速和稳定的连接。
基本信息
专利标题 ：
电子部件的测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921597673.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-24
授权号 ：
CN210954245U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
韩光通余毅
申请人 ：
西门子数控（南京）有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁经济技术开发区西门子路18号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921597673.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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