一种编码器测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种编码器测试仪，包括输入模块和两路AC/DC转换模块，所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机ARM芯片和从机DSP芯片，所述从机ARM芯片和从机DSP芯片连接主机ARM芯片，所述主机ARM芯片连接Flash存储芯片、SPI绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、PWM输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机ARM芯片将测量数据保存在Flash存储芯片中。本装置测试CPU可选，支持DSP和ARM两种主流的MCU。
基本信息
专利标题 ：
一种编码器测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921599956.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-25
授权号 ：
CN210719230U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
葛文文
申请人 ：
上海竞久自动化科技有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区新桥镇九新公路2888号申新广场3号楼4楼3403室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921599956.2
主分类号 ：
G01D18/00
IPC分类号 ：
G01D18/00 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D18/00
测试或校准大组G01D1/00-G01D15/00中列入的设备或装置
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
