一种二极管阵列测试夹具
授权
摘要
本实用新型公开了一种二极管阵列测试夹具，二极管阵列测试夹具包括母板、继电器、测试插座与子板；母板设置连接插头和插孔，母板通过连接插头与测试系统的端相连接，母板通过插孔与继电器连接；继电器设置母板插孔、电源插孔、与母板插头，继电器通过母板插孔与母板的插孔连接，继电器通过电源插孔与电源连接，继电器通过母板插头与母板的连接插头连接；子板开设与母板的插孔对应的排针，排针与插孔连接；子板通过测试插座与待测的二极管阵列连接；测试插座用于放置待测的二极管阵列，测试插座开设测试插孔，测试插孔连接排针，使子板与待测的二极管阵列连接。
基本信息
专利标题 ：
一种二极管阵列测试夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921605552.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-25
授权号 ：
CN211179914U
授权日 ：
2020-08-04
发明人 ：
冯振平胡文菊杨行
申请人 ：
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址 ：
北京市海淀区永定路50号
代理机构 ：
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 ：
李翔
优先权 ：
CN201921605552.X
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-08-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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