一种可根据不同插槽位置进行测试的主板测试治具
授权
摘要
本实用新型提供一种可根据不同插槽位置进行测试的主板测试治具，包括支撑架、测试治具主体、测试头、电动推杆滑轨、固定座、导向柱、转动柄、滑块、支撑座、槽孔标线以及轴承，测试治具主体上端面安装有支撑架，支撑架下端面装配有电动推杆，电动推杆下端面安装有测试头，测试治具主体上端面安装有滑轨，滑轨上端面装配有滑块，滑块上端面安装有支撑座，支撑座上端面刻有槽孔标线，支撑座右端面安装有导向柱，导向柱与支撑座连接处装配有轴承，导向柱右端面安装有转动柄，测试治具主体上端面固定有固定座，该设计解决了原有主板测试治具测试效果不佳的问题，本实用新型结构合理，测试效果好，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种可根据不同插槽位置进行测试的主板测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921620953.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-27
授权号 ：
CN210894613U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
张君军
申请人 ：
苏州新申跃电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区何山路368号4幢4楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921620953.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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