一种现场检测钢化玻璃幕墙杂质和缺陷的装置

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摘要

本实用新型公开了一种现场检测钢化玻璃幕墙杂质和缺陷的装置，包括偏振光源、检测主机和连接线，偏振光源和检测主机通过连接线相连。所述偏振光源包括起偏片、LED光源、第一电源模块、第一无线通信模块、第一控制模块、用于与磁铁吸合的铁板和第一壳体，用于形成线偏振光。所述检测主机包括图像采集模块、人机接口模块、第二电源模块、第二无线通信模块、第二控制模块、磁铁和第二壳体，用于采集光弹图像和原始图像，分析确定杂质和缺陷的类型、尺寸和位置等信息。本实用新型适合在现场对已服役的钢化玻璃幕墙进行杂质和缺陷检测。

基本信息

专利标题：

一种现场检测钢化玻璃幕墙杂质和缺陷的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921626981.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-27

授权号：

CN211043169U

授权日：

2020-07-17

发明人：

魏天虎阎强黄达泉胡乃东常俏石清胡哲林桐杉

申请人：

北京奥博泰科技有限公司;中国建筑科学研究院有限公司;北京奥博泰测控技术有限公司

申请人地址：

北京市丰台区科技园区外环西路26号院19号楼

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921626981.5

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88 G01N21/958 G08C17/02