一种矿物分析用电子探针样本持装置
授权
摘要

本实用新型涉及夹持技术领域,尤其是一种矿物分析用电子探针样本持装置。本实用新型设置的矿物分析用电子探针样本持装置包括凹板,其特征在于,所述凹板的顶部左右两侧均加工有滑槽,两个所述滑槽的内部均安装有夹持机构,两个所述夹持机构的正面均安装有固定机构。通过夹持机构、固定机构就和转动机构的配合解决了现有的矿物分析用电子探针样本持装置在使用时容易发生偏移的问题,避免了样品边缘受到损坏,避免了浪费,保证了样品的检测结构,避免了后续分析造成偏差,并且通过调整机构解决了调整样品时容易发生遮挡的问题,避免了样品目标丢失,降低了工作难度,节约时间,提高了实用性,功能全面,符合现代人的使用需求,便于推广。

基本信息
专利标题 :
一种矿物分析用电子探针样本持装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921645195.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-29
授权号 :
CN210665555U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
冷成彪李凯旋陈喜连陈加杰
申请人 :
东华理工大学
申请人地址 :
江西省南昌市经济技术开发区广兰大道418号
代理机构 :
北京久维律师事务所
代理人 :
陈强
优先权 :
CN201921645195.X
主分类号 :
G01N23/2252
IPC分类号 :
G01N23/2252  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
G01N23/2252
测量受激X射线,例如电子探针微量分析
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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