双玻组件错位检验装置
授权
摘要
本实用新型涉及双玻组件错位检验装置，双玻组件错位检验装置包括：光源，位于所述双玻组件的背面的一侧，用于对所述双玻组件的背面进行照射；摄像机构，位于所述双玻组件的正面的一侧，用于对所述双玻组件的正面进行拍照。本实用新型实施例的双玻组件错位检验装置，使错位检验较为容易，提高了工作效率，较大的提高了错位检验的准确率，进而降低了经济损失。
基本信息
专利标题 ：
双玻组件错位检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921665850.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-30
授权号 ：
CN210489580U
授权日 ：
2020-05-08
发明人 ：
郑建束蒙蒙崔廷
申请人 ：
合肥晶澳太阳能科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区长宁大道999号
代理机构 ：
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐颖聪
优先权 ：
CN201921665850.8
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 G01N21/95 G01D5/34
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2020-05-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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