孔隙压测量装置及测量系统
授权
摘要

本申请提供了一种孔隙压测量装置及测量系统,属于孔隙压测量领域,测量装置包括第一壳体、充气稳压组件、第一传感器、第二传感器和数据采集控制模块;第一壳体的内部设置有背压舱,充气稳压组件设置在背压舱内;第一传感器设置在第一壳体的内部,用以检测背压舱内的压力;第二传感器用于检测背压舱与外界之间的压力差;数据采集控制模块用于计算相应的压力数值以及压力差数值;该测量装置在较高量程时保障较高的测量分辨率,安装前可以预估压力数值调节充气稳压组件的压力,进而调整背压舱内的工作压力范围,实现稳定背压压力源,解决了在较高孔隙压情况下检出有效压力波动异常的问题,有效提高测量的精度及孔隙压力测量的应用能力。

基本信息
专利标题 :
孔隙压测量装置及测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921686041.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-09
授权号 :
CN210626279U
授权日 :
2020-05-26
发明人 :
姜景捷彭华马秀敏李振孙尧
申请人 :
中国地质科学院地质力学研究所
申请人地址 :
北京市海淀区民族大学南路十一号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
罗硕
优先权 :
CN201921686041.5
主分类号 :
G01N15/08
IPC分类号 :
G01N15/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/08
测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或孔隙表面积
法律状态
2020-05-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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