一种用于微流控芯片的测温装置
专利权的终止
摘要
本实用新型提供了一种用于微流控芯片的测温装置，包括设置在微流控芯片片基中的纳米温度探针，用于照射纳米温度探针的近红外激光源，近红外激光源设置在基座上，在基座上还设置用于接收纳米温度探针发出光线的探测器，所述基座、近红外激光源、探测器均设置在壳体中，壳体为不透光的壳体。该方案采用上转换发光性质的纳米颗粒，在外界的近红外光束照射下，纳米颗粒能够发出可见光，且纳米颗粒的发光性质随着颗粒温度的变化而改变，所以可以获得纳米颗粒所处位置的温度变化信息。
基本信息
专利标题 ：
一种用于微流控芯片的测温装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921708663.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-13
授权号 ：
CN210719411U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
郭玉国王瑀潘桂建
申请人 ：
镇江国裕纳米新材料科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市丹徒区高新园区丹桂路1号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921708663.3
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2021-09-24 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01J 5/00
申请日 : 20191013
授权公告日 : 20200609
终止日期 : 20201013
申请日 : 20191013
授权公告日 : 20200609
终止日期 : 20201013
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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