一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型公开了一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,包括主控单元、测量单元、标定单元、准直单元和温控单元,矿浆取样设备就近安装在搅拌桶内,数据分析处理上位软件安装在PC端工控机中;主控单元采用STM32F407ZET6系列作为微处理器;测量单元由X光管、高压电源以及探测器构成;标定单元由检测执行机构及步进电机控制模块构成;准直单元包括准直器和滤光片构成;温控单元由半导体制冷片和微电脑温控器构成;本实用新型能够实时测量选矿各工艺流程中的矿浆品位,并且无放射性元素的危害,具有测量精准、分析方法先进、安全性高的优点。

基本信息
专利标题 :
一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921722950.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-14
授权号 :
CN211652623U
授权日 :
2020-10-09
发明人 :
程小舟刘志远周德君骆俊朱洁胡平朱果
申请人 :
中钢集团马鞍山矿山研究院有限公司;华唯金属矿产资源高效循环利用国家工程研究中心有限公司
申请人地址 :
安徽省马鞍山市经济开发区西塘路666号
代理机构 :
马鞍山市金桥专利代理有限公司
代理人 :
常前发
优先权 :
CN201921722950.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G05B19/042  G05D23/19  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-12-04 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 23/223
变更事项 : 专利权人
变更前 : 中钢集团马鞍山矿山研究院有限公司
变更后 : 中钢集团马鞍山矿山研究总院股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 243000 安徽省马鞍山市经济开发区西塘路666号
变更后 : 243000 安徽省马鞍山市经济开发区西塘路666号
变更事项 : 专利权人
变更前 : 华唯金属矿产资源高效循环利用国家工程研究中心有限公司
变更后 : 华唯金属矿产资源高效循环利用国家工程研究中心有限公司
2020-10-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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