伺服系统测试装置的传动结构及伺服系统测试装置

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摘要

本实用新型涉及一种伺服系统测试装置的传动结构及伺服系统测试装置，包括加载电机、被测电机、第一传动轴、联轴器以及用于测试被测电机性能的检测器。联轴器包括第一联轴器、第二联轴器和第三联轴器，第一联轴器用于将检测器连接至被测电机的输出轴上，第二联轴器用于将检测器连接至第一传动轴的一端，第三联轴器用于将加载电机连接至第一传动轴的另一端。采用联轴器将第一传动轴可拆卸地连接于被测电机和加载电机之间，这样可根据实际测试需求，更换不同类型的第一传动轴，以满足不同的测试条件要求。同时，将被测电机放置在温湿度箱内，以满足温湿度箱测试。该伺服系统测试装置的传动结构能够兼备多种传动性能的测试，测试功能的综合性较强。

基本信息

专利标题：

伺服系统测试装置的传动结构及伺服系统测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921734703.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-16

授权号：

CN210983088U

授权日：

2020-07-10

发明人：

刘文威董成举王春辉郭广廓李小兵陈勃琛成克强杨剑锋潘广泽黄强罗高义

申请人：

中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

申请人地址：

广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司

代理人：

王裕波

优先权：

CN201921734703.1

主分类号：

G05B19/414

IPC分类号：

G05B19/414