一种结构形变检测传感器及检测系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种结构形变检测传感器及检测系统，属于结构形变检测领域。本结构形变检测传感器，包括：第一固定座，所述第一固定座上设有第一介质基板，所述第一介质基板的一端设有第一微带电路；第二固定座，所述第二固定座与所述第一固定座平行设置，所述第二固定座上设有第二介质基板，所述第二介质基板的一端设有第二微带电路，所述第二微带电路朝向所述第一微带电路，所述第一微带电路与所述第二微带电路之间留有互感耦合缝隙。本结构形变检测传感器的效果是能够简单方便快速的检测结构微小形变，检测准确度高，检测成本低，消耗的能源低，同时利于进行检测操作。
基本信息
专利标题 ：
一种结构形变检测传感器及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921750911.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-18
授权号 ：
CN210773951U
授权日 ：
2020-06-16
发明人 ：
胡明哲李立霍玲玲
申请人 ：
贵州民族大学
申请人地址 ：
贵州省贵阳市花溪区贵州民族大学
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
翟磊
优先权 ：
CN201921750911.0
主分类号 ：
G01B15/06
IPC分类号 ：
G01B15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/06
用于计量固体的变形
法律状态
2020-06-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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