一种电子元件温度测试仪
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本实用新型涉及一种电子元件温度测试仪,属于测试工装技术领域,其技术要点是:包括基座和多块设置于基座上的测试电路板,每块所述测试电路板对应设有用于安装电子元件的安装座和电连接于电子元件的外接电路模块,所述测试电路板对应安装座设有用于温度测试的测试装置;所述测试装置包括测试盒和设置于测试盒上的若干温度元件,所述安装座设置于测试盒内部。本实用新型提出的一种电子元件温度测试仪,通过将安装电子元件的安装座从电子设备中脱离出来,并设置测试装置对电子元件进行单独加热或制冷,减少热测作业和冷测作业过程中的温度变化对其他电路元器件的影响,提高检测精度。
基本信息
专利标题 :
一种电子元件温度测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921773838.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-19
授权号 :
CN211402563U
授权日 :
2020-09-01
发明人 :
叶敏吴大畏李晓强
申请人 :
深圳市得一微电子有限责任公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道科技园南十二路18号长虹科技大厦6楼09-2、10-11单元
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921773838.9
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-10 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/00
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市得一微电子有限责任公司
变更后 : 得一微电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技园南十二路18号长虹科技大厦6楼09-2、10-11单元
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南七道17号深圳市数字技术园A1栋七层A区
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市得一微电子有限责任公司
变更后 : 得一微电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技园南十二路18号长虹科技大厦6楼09-2、10-11单元
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南七道17号深圳市数字技术园A1栋七层A区
2020-09-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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