一种混针式电路板测试治具
授权
摘要
本实用新型提供了一种混针式电路板测试治具，包括有针盘、线盘、增强板和测试连接口，增强板设置在针盘与线盘之间；所述针盘的上表面穿插有直径为70μm或90μm或110μm的第一测试探针、直径为30μm或40μm或50μm或60μm的第二测试探针，第一测试探针和第二测试探针的长度为30mm，并可上下活动地间隔地穿插在针盘和增强板上；线盘上穿设间隔设置的多条导电线，多条导电线的一端与针盘上受压下移的测试探针一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口内的测试连接针上。实现了在一个测试治具上同时设置小直径测试探针和大直径测试探针，治具加工成本和制作难度降低，同时解决了小直径测试探针受压易变形的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种混针式电路板测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921821739.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-28
授权号 ：
CN211554225U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
郭红建
申请人 ：
珠海拓优电子有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市斗门区白蕉开发区沿江路西顺风大道南1号101
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
卢泽明
优先权 ：
CN201921821739.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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